FLUKEii1020C
【ICANSTron】FLUKE 原廠公司貨
FLUKE ii1020C 聲學成像儀｜202 顆 MEMS 麥克風、2～100 kHz、0.5～120 m、LeakQ 漏氣與 PDQ 局部放電、IP54
FLUKE ii1020C 聲學成像儀：202 顆麥克風、漏氣與局部放電檢測 產品概述 ii1020C 以 202 顆數位 MEMS 麥克風與 SoundSight 技術，把超音波影像疊在可見光影像上，可檢測壓縮空氣、氣體與真空系統洩漏，以及電暈、表面放電與電弧等局部放電。 核心規格 麥克風 ：202 顆數位 MEMS 頻率 ：2～100 kHz；標準頻段至 64 kHz，可切換擴展頻段至 100 kHz 偵測距離 ：0.5～120 m（依環境） 模式 ：LeakQ 漏氣量化；PDQ 局部放電判斷 顯示與防護 ：7 吋 1280 × 800；1300 萬像素可見光相機；IP54；1.2 kg 應用 廠務壓縮空氣洩漏巡檢與電力設備局部放電檢查。 規格依 FLUKE 原廠台灣產品頁與 ii102
202 顆數位 MEMS 麥克風2～100 kHz（標準 64 kHz／擴展 100 kHz）；0.5～120 mLeakQ 漏氣、PDQ 局部放電；IP54、1.2 kg
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概觀
FLUKE ii1020C 聲學成像儀：202 顆麥克風、漏氣與局部放電檢測
產品概述
ii1020C 以 202 顆數位 MEMS 麥克風與 SoundSight 技術，把超音波影像疊在可見光影像上，可檢測壓縮空氣、氣體與真空系統洩漏，以及電暈、表面放電與電弧等局部放電。
核心規格
- 麥克風：202 顆數位 MEMS
- 頻率：2～100 kHz；標準頻段至 64 kHz，可切換擴展頻段至 100 kHz
- 偵測距離：0.5～120 m（依環境）
- 模式：LeakQ 漏氣量化；PDQ 局部放電判斷
- 顯示與防護：7 吋 1280 × 800；1300 萬像素可見光相機；IP54；1.2 kg
應用
- 廠務壓縮空氣洩漏巡檢與電力設備局部放電檢查。
規格依 FLUKE 原廠台灣產品頁與 ii1020C 使用手冊（2026-10-21 查詢）。
技術規格
- 主要規格
- 202 顆數位 MEMS 麥克風2～100 kHz（標準 64 kHz／擴展 100 kHz）；0.5～120 mLeakQ 漏氣、PDQ 局部放電；IP54、1.2 kg
- 產品型號
- ii1020C
- 原廠品牌
- FLUKE
- 採購方式
- 現貨含稅 / B2B 企業正式詢價 (RFQ)
- 保固服務
- 原廠保固一年
校驗服務
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