KYORITSU KEW 3025B 数字高压绝缘电阻测试仪｜250／500／1000／2500 V，最高 100 GΩ，PI／DAR，短路电流 1.5 mA

KYORITSU KEW 3025B 数字高压绝缘电阻测试仪：2500 V、PI／DAR 诊断

产品概述

KEW 3025B 是 KYORITSU 数字高压绝缘电阻测试仪，用于电机、电缆与变压器等设备的绝缘诊断，可计算极化指数 PI 与介质吸收比 DAR。具备滤波功能以降低噪声干扰，并有带电警示与测试后自动放电。同系列 KEW 3125B 增加 5000 V 挡、最高 1000 GΩ，请另行询价。

核心规格

• 测试电压与量程：250 V：0.0～100.0 MΩ；500 V：至 1000 MΩ；1000 V：至 2.00 GΩ；2500 V：至 100.0 GΩ
• 精度：±5%rdg±3dgt
• 短路电流：1.5 mA
• 电压测量：AC 30～600 V（50／60 Hz）、DC ±30～±600 V，±2%rdg±3dgt
• 显示：大尺寸显示，含条形图与背光
• 标准：IEC 61010-1、IEC 61010-2-030 CAT IV 300 V／CAT III 600 V；IEC 61010-031
• 电源与重量：DC 12 V（8 × C 电池）；177 × 226 × 100 mm，约 1.7 kg（含电池）

应用

• 电机、电缆、变压器绝缘劣化的 PI／DAR 诊断。

规格依据 KYORITSU 原厂英文官网 KEW 3025B 与 KEW 3125B 产品页及型录（2026-10-21 查询）。